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　　太陽光模擬器的均勻度要求：

　　在測試平面上,規(guī)定測試區(qū)域內的輻照度應該達到一定的均勻度,輻照度用合適的探測器量測。等級A的輻照均勻度≤+/-2%,等級B的輻照均勻度≤+/-5%,等級C的輻照均勻度≤+/-10%。

　　對于組件，探測器尺寸應不大于組件中單體電池的尺寸。

　　不均勻度=+/-(最大幅照度-最小輻照度)/(最大幅照度+最小輻照度)*100%。

　　其中：最大輻照度和最小輻照度是指在規(guī)定范圍內探測器在任意規(guī)定點的測量值。

　　太陽光模擬器的輻照穩(wěn)定度要求：

　　數據采集期間,輻照度應該具有一定的穩(wěn)定度。等級A的穩(wěn)定度在≤+/-2%,等級B的穩(wěn)定度在≤+/-5%,等級C的穩(wěn)定度在≤+/-10%,輻照不穩(wěn)定度=+/-(最大幅照度-最小輻照度)/(最大幅照度+最小輻照度)*100%。

　　其中：最大輻照度和最小輻照度是數據采集期間在測試平面內探測器在任意規(guī)定點的測量值。

　　具體的測試方法請參考IEC規(guī)程。